【お知らせ】低真空走査電子顕微鏡活用セミナーの開催について

2018年2月16日

1.概 要

  走査電子顕微鏡(以下「SEM」という)は、試料表面に電子線を走査させることで、試料表面の形状観察や元素分析ができる装置です。通常のSEM の場合、食品や生体材料等の水分を含む試料は観 察出来ません。しかし、今年度、当センターに導入された低真空SEM では、低真空モードにより、これら試料の観察が可能です。

  本セミナーでは、SEM の基本的な原理や操作方法の説明に加え、良い画像を得る為の観察のコツや元素分析の方法などを、実習形式にて紹介致します。

 

開催日時・場所

1.日  程  平成 30 年  3 月 5 日(月)および 6 日(火) (2日間とも同じプログラムです)

2.時  間  10:00~16:00(予定)

3.会  地方独立行政法人山口県産業技術センター 会議室(3F)および表面解析研究室

(宇部市あすとぴあ4丁目1番1号)

4.参加費  無料

4.定  員   10名

 

SEM により工業材料等の表面観察及び元素分析を行われている方、その他SEM に興味のある方

 

講師及び研修プログラム

【講師】

日本電子株式会社 SM アプリケーション部 中嶌香織 氏

 

【プログラム】

低真空走査電子顕微鏡活用セミナーのプログラム

 

装置紹介

低真空走査電子顕微鏡

低真空走査電子顕微鏡

JSM-IT500LA、日本電子(株)

※画像をクリックすると機器の詳細が見れます。

 

 

申込方法

PDFの申込書(2枚目)を記入のうえ、FAX またはEメールにてお申し込み下さい。

申込締切 2 月 23 日(金)

 

低真空走査電子顕微鏡活用セミナ-pdf(312KBytes)

 

 

 


お問い合わせ

技術相談室
有富
電話:0836-53-5053
ファクシミリ:0836-53-5070